Аутори:
1. Svetlana Pelemiš, Технолошки факултет у Источном Сарајеву, Republic of Srpska, Bosnia and Herzegovina
2. Драгољуб Мирјанић, Академија наука и умјетности Републике Српске, Republic of Srpska, Bosnia and Herzegovina
3. Miladin Gligorić, Технолошки факултет у Источном Сарајеву, Republic of Srpska, Bosnia and Herzegovina

Апстракт:
Постоји мноштво различитих метода карактеризације наноматеријала. У овом раду биће описано неколико дифракцијских метода. Најзначајнија је рендгенска дифракција која даје информације о уређењу масивних узорака. Затим електронска дифракција којом се испитују врло мала подручја, LEED, RHEED и неутронска дифракција.

Кључне речи:
карактеризација наноматеријала, рендгенска дифракција, електронска дифракција, неутронска дигракција

Тематска област:
СИМПОЗИЈУМ А - Наука материје, кондензоване материје и физикa чврстог стања

Датум пријаве сажетка:
18.07.2017.

Конференцијa:
Contemporary Materials 2017 - Савремени Материјали