Аутори:
1. Божица Бојовић, 2. Ivana Stanković (Mileusnić), Машински факултет Универзитета у Београду,

Апстракт:
U ovom radu izvršena su komparativna istraživanja površine materijala za kontaktna sočiva pomoću nanoprob mikroskopije atomskih i magnetnih sila. Nanoprob mikroskopija atomskih sila (AFM) daje informaciju o veličini struktura na naometarskom nivou, obliku snimljenih struktura (udubljenja), njihove raspoređenosti po površini, kao i o ukupnoj hrapavosti skenirane površine. Nanoprob mikroskopija maganetnih sila (MFM) daje informaciju o rasporedu magnetnih, paramagnetnih i dijamagnetnih struktura (atoma, molekula i klastera) na snimljenoj površini pomoću AFM, promeni gradijenta magnetnog polja na naometarskom nivou, energetskom magnetnom obliku snimljenih struktura (magnetnih vrhova i dolina) kao i njihove raspoređenosti po površini. Istraživanja su urađena za bazni materijal kontaktnih sočiva od polimetilmetakrilata (PMMA) i matrijal PMMA kada mu je u toku polimerizacije dodat nanomaterijal (molekuli C60 velićine 1 nm). Uočene su razlike kako u topografiji tako i u intenzitetu i gustini gradijenta magnetnogpolja. Dobijeni rezltati detaljno su analizirani.

Кључне речи:
Kontaktna soćiva, PMMA, molekul S60, AFM, MFM

Тематска област:
Наноструктурни материјали

Уводни рад:
Да

Датум пријаве сажетка:
12.06.2011.

Бр. отварања:
941

Конференцијa:
Contemporary Materials - 2011 - Савремени материјали